FISCHERSCOPE? X-RAY 5000系统可以连续测量大面积基板（例如在光伏中）上薄镀层的厚度。该系列的设备由模块化单元组成，易于在生产线上安装。X-RAY5000可以在正常空气或真空中运行。此外，该设备的设计易于维护：测量头可以在不释放真空的情况下进行维修。

如果产品在制造过程中移动或凸出，可能会使测量结果发生偏差。 为此Fischer的WinFTM软件内置了距离补偿功能，该功能可以补偿高达1厘米的波动的影响，而无需额外的距离传感器。

• 与生产控制系统相连的运行过程中的连续测量

• 灵活的用途：用于真空或空气中的测量； 适用于高达400°C的样品温度

• 可选配水冷

• 特别稳健的设计和结构，可在苛刻的条件下持续精确的测量

• 非常适合于大表面产品的镀层厚度测量和材料分析

• X射线源，探测器和基本滤片都可由客户选择

• 符合DIN ISO 3497和ASTM的系统 B 568标准

• 太阳能行业中CIGS，CIS，CdTe和CdS层的厚度

• 金属条，金属箔和塑料膜上的几微米厚的薄镀层

• 光伏中CIGS，CIS，CdTe和CdS层的组成

• 连续生产中的镀层厚度控制

• 溅射和电镀厂的过程监控